手動式翻蓋結構,翻蓋式測試座燒錄治具
產品特性:
類型: 測試座/燒錄座
采用手動式翻蓋結構,操作簡易;
探針的特殊頭形能刺破錫球氧化層,接觸可靠,而不會損傷錫球;
采用浮板結構,對于IC有球無球都可以測;
高精度的定位槽和導向孔,保證IC定位精準,測試準確率高;
探針可以更換,維修方便,成本低;
絕緣材料:鋁合金,Torlon/PEI/PEEK/PPS/FR4;
最小間距:pitch=0.3mm;
測試頻率:-3dB@19GHz;
接觸電阻:<100mΩ;
用途:IC燒錄/ IC功能驗證測試;
可以根據客戶要求定制非標測試座;
應用范圍:BGA/QFN/QFP等封裝IC燒錄/測試,
公 司:深圳市浦洛電子科技有限公司
聯系人:田副總經理
電話:0755-27889099-860
手機:15013898675
E-mail:sales@www.mik777.com
地 址:深圳市寶安區福永新田大道71-1福寧工業園A棟6F